涂層測(cè)厚儀的核心原理基于物理場(chǎng)(磁場(chǎng)或渦流)的變化，間接換算出涂層厚度。
 

　　涂層測(cè)厚儀主要分為兩類：
 

　　磁性測(cè)厚法
 

　　適用基材：鐵磁性金屬(如鋼、鐵、鎳等)。
 

　　原理：探頭內(nèi)置磁鐵或電磁線圈，通電后產(chǎn)生穩(wěn)定磁場(chǎng)。當(dāng)探頭接觸涂層表面時(shí)，非磁性涂層(如油漆、橡膠)會(huì)“阻隔”磁場(chǎng)，導(dǎo)致磁路路徑變長(zhǎng)，磁通量減小、磁阻增大。傳感器捕捉磁場(chǎng)變化，轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，再通過(guò)校準(zhǔn)曲線換算為涂層厚度。
 

　　特點(diǎn)：測(cè)量精度高，適用于薄涂層檢測(cè)，是工業(yè)中常用的方法之一。
 

　　渦流測(cè)厚法
 

　　適用基材：非鐵磁性導(dǎo)電金屬(如鋁、銅、鎂等)。
 

　　原理：探頭內(nèi)置高頻振蕩線圈，通電后產(chǎn)生高頻交變磁場(chǎng)。當(dāng)探頭靠近基材時(shí)，磁場(chǎng)在基材表面感應(yīng)出渦流。涂層(非導(dǎo)電)會(huì)“削弱”磁場(chǎng)強(qiáng)度，導(dǎo)致渦流強(qiáng)度降低，進(jìn)而影響探頭線圈的阻抗。儀器通過(guò)檢測(cè)阻抗變化，換算為涂層厚度。
 

　　特點(diǎn)：適用于非鐵金屬基材，但精度略低于磁性法。